课程根据了GD&T和正负公差标准ASME Y14.5M和ISO1101的要求,阐述了制造业装配过程对尺寸链和公差分析知识。介绍了正、负几何公差标注检验和分析以及多基准结构,包括:尺寸环分析、数据表格、实效条件、结果条件、内边界、外边界、最小间隙、最大壁厚、最大干涉、最大和最小总体尺寸、紧固/浮动螺纹装配、投射公差带、公差叠加分析、统计公差等。
培训目标
※掌握“正负公差线性尺寸链计算方法”。
※掌握“几何公差(GD&T/GPS)的尺寸链计算方法”。
※能够理解并熟练使用“一维尺寸链计算Excel表格” 进行极限公差(Worst Case) 和RSS(方和根)法尺寸链计算。
※掌握蒙特卡洛模拟法处理其他统计公差(Statistical Tolerancing)尺寸链的方法。
※了解将非线性尺寸链问题简化为线性尺寸链的数学方法。
※了解多维尺寸链计算的各影响因素权重系数确定的数学方法。
授课形式
理论讲解+案例分析+案例实战+互动答疑
服务时间:2天培训+(可选项)现场落地辅导1-3天
参训人员
研发工程师、工艺工程师、质量工程师
学员需参加过GD&T或GPS培训,或具备相应知识和经验。
学员具备基础的统计学基础,如曾学习过《概率论与数理统计》或培训过《统计过程控制(SPC)》
课程内容
尺寸链计算介绍
1、为什么要使用尺寸链计算
2、常用的尺寸链计算方法
3、设计尺寸链介绍
4、工艺尺寸链
5、尺寸链计算中常见的假设条件
正负公差、线性尺寸链计算(Worst Case -极限公差方法)
1、简单的正负公差、线性尺寸链计算例子
2、正负公差、线性尺寸链计算计算步骤
3、尺寸链计算表格介绍及注意事项
4、尺寸链计算报告
5、总结或练习
统计公差尺寸链计算方法介绍
1、极限公差和统计公差尺寸链计算比较
2、方和根法(RSS)
3、蒙特卡罗模拟(Monte Carlo)法
4、常见的尺寸分布介绍和多分布类型的统计公差尺寸链计算
5、常用的三维偏差分析软件介绍
几何公差(GD&T/GPS)重要知识点介绍
1、补偿公差(Bonus Tolerance)
2、内边界(Inner Boundary)与外边界(Outer Boundary)
3、基准要素偏移 (Datum Feature Shift)
4、公差带分类
5、基准与自由度
6、位置公差、方向公差与形状公差之间关系
GD&T标注尺寸链计算方法
1、GD&T公差标注与正负公差标注的差别
2、面轮廓度(带基准)在尺寸链计算中的处理
3、位置度在尺寸链计算中的处理
4、补偿公差在尺寸链计算中的处理
5、基准偏移在尺寸链计算中的处理
装配偏移 (Assembly Shift)
1、装配偏移的计算方法
2、重力影响的装配偏移计算方法
3、装配偏移与图纸标注关系(正负公差标注与GD&T标注)
4、装配偏移与基准要素偏移区别
GD&T的边界法尺寸链分析处理可装配性问题
1、直径、直线度综合作用的可装配性问题
2、垂直度、直径综合作用的可装配性问题
3、位置度、直径综合作用的可装配性问题
4、紧固件装配公差分配经验公式
5、浮动紧固计算公式
6、固定紧固计算公式
7、延伸公差带公差计算
非线性尺寸链和多维尺寸链问题的数学方法
综合练习(根据时间安排和学员需求)
1、壁厚计算
2、可装配性计算
3、多个产品装配后尺寸计算
4、加工余量计算
5、最小接触面积计算
综合案例分析和讨论(提醒学员需提前准备实际案例)
1、综合尺寸链案例分析
2、实际尺寸链计算案例分析
3、偏差分析在企业中使用的常见问题讨论